Measurement of Self-Heating Temperature ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
Title :
Measurement of Self-Heating Temperature in AlGaN/GaN HEMTs by Using Cerium Oxide Micro-Raman Thermometers
Author(s) :
Brocero, G. [Auteur]
Thales Air Systems
Equipe Electronique - Laboratoire GREYC - UMR6072
Guhel, Y. [Auteur]
Equipe Electronique - Laboratoire GREYC - UMR6072
Eudeline, P. [Auteur]
Thales Air Systems
Sipma, J. [Auteur]
Thales Air Systems
Gaquiere, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Puissance - IEMN [PUISSANCE - IEMN]
Boudart, B. [Auteur]
Equipe Electronique - Laboratoire GREYC - UMR6072
Thales Air Systems
Equipe Electronique - Laboratoire GREYC - UMR6072
Guhel, Y. [Auteur]
Equipe Electronique - Laboratoire GREYC - UMR6072
Eudeline, P. [Auteur]
Thales Air Systems
Sipma, J. [Auteur]
Thales Air Systems
Gaquiere, Christophe [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Puissance - IEMN [PUISSANCE - IEMN]
Boudart, B. [Auteur]
Equipe Electronique - Laboratoire GREYC - UMR6072
Journal title :
IEEE Transactions on Electron Devices
Pages :
4156-4163
Publisher :
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Publication date :
2019-10
ISSN :
0018-9383
English keyword(s) :
CeO₂ particles
GaN
high-electron-mobility transistors (HEMTs)
micro-Raman thermometers
self-heating
GaN
high-electron-mobility transistors (HEMTs)
micro-Raman thermometers
self-heating
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :