Title :

Measurement of Self-Heating Temperature in AlGaN/GaN HEMTs by Using Cerium Oxide Micro-Raman Thermometers

Author(s) :

Brocero, G. [Auteur]
Thales Air Systems
Equipe Electronique - Laboratoire GREYC - UMR6072
Guhel, Y. [Auteur]
Equipe Electronique - Laboratoire GREYC - UMR6072
Eudeline, P. [Auteur]
Thales Air Systems
Sipma, J. [Auteur]
Thales Air Systems
Gaquiere, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Puissance - IEMN [PUISSANCE - IEMN]
Boudart, B. [Auteur]
Equipe Electronique - Laboratoire GREYC - UMR6072

Journal title :

IEEE Transactions on Electron Devices

Pages :

4156-4163

Publisher :

Institute of Electrical and Electronics Engineers

Publication date :

2019-10

ISSN :

0018-9383

English keyword(s) :

CeO₂ particles
GaN
high-electron-mobility transistors (HEMTs)
micro-Raman thermometers
self-heating

HAL domain(s) :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Internationale

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL