Title :

ELENA project – electrical nanoscale metrology in industry: key outcomes

Author(s) :

Piquemal, François [Auteur]
Laboratoire commun de métrologie LNE-CNAM [LCM-CNAM]
Laboratoire National de Métrologie et d'Essais [Trappes] [LNE ]
Hoffmann, Johannes [Auteur]
Kaja, Khaled [Auteur]
Laboratoire National de Métrologie et d'Essais [Trappes] [LNE ]
Gautier, Brice [Auteur]
Institut des Nanotechnologies de Lyon [INL]
INL - Dispositifs Electroniques [INL - DE]
Hertwig, Andreas [Auteur]
Fabricius, Norbert [Auteur]
Klapetek, Petr [Auteur]
Czech Metrology Institute
Hüsnü, Aslan [Auteur]
Danish National Metrology Institute [DFM A/S]
Kaestner, Bernd [Auteur]
Physikalisch-Technische Bundesanstalt [Berlin] [PTB]
Ozbay, Aisha [Auteur]
Borowik, Lukasz [Auteur]
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information [CEA-LETI]
Houzé, Frédéric [Auteur]
Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris [GeePs]
Gramse, Georg [Auteur]
University of Linz - Johannes Kepler Universität Linz [JKU]
Haddadi, Kamel [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Circuits Systèmes Applications des Micro-ondes - IEMN [CSAM - IEMN ]
Weaver, Jonathan [Auteur]
University of Glasgow

Conference title :

Journées Plénières GDR NAME 2024

City :

Lille (Villeneuve d'Ascq)

Country :

France

Start date of the conference :

2024-11-06

HAL domain(s) :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Nationale

Popular science :

Non

European Project :

Electrical nanoscale metrology in industry

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL