Title :

Short-term reliability assessment of sub-micron thick AlN/GaN-on-Silicon HEMTs grown by MBE for RF applications

Author(s) :

Carneiro, Elodie [Auteur]
WIde baNd gap materials and Devices - IEMN [WIND - IEMN]
Ben Hammou, L. [Auteur]
Rennesson, S. [Auteur]
Okada, Etienne [Auteur]
Plateforme de Caractérisation Multi-Physiques - IEMN [PCMP - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Semond, Fabrice [Auteur]
Centre de recherche sur l'hétéroepitaxie et ses applications [CRHEA]
Medjdoub, Farid [Auteur]
WIde baNd gap materials and Devices - IEMN [WIND - IEMN]

Conference title :

Compound Semiconductor Week (CSW)

City :

Lund

Country :

Suède

Start date of the conference :

2024-06-03

Book title :

Proceeding of Compound Semiconductor Week 2024

HAL domain(s) :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Internationale

Popular science :

Non

ANR Project :

Réseau national sur GaN

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL