Diagnostic des systèmes embarqués critiques ...
Document type :
Article dans une revue scientifique: Article original
DOI :
Title :
Diagnostic des systèmes embarqués critiques : Application à la carte de commande du système de freinage d'un train
Author(s) :
Saddem, Ramla [Auteur]
Systèmes Tolérants aux Fautes [STF]
Toguyeni, Armand [Auteur correspondant]
Systèmes Tolérants aux Fautes [STF]
Tagina, Moncef [Auteur]
Stratégies d’Optimisation et Informatique intelligentE [SOIE]
Systèmes Tolérants aux Fautes [STF]
Toguyeni, Armand [Auteur correspondant]
Systèmes Tolérants aux Fautes [STF]
Tagina, Moncef [Auteur]
Stratégies d’Optimisation et Informatique intelligentE [SOIE]
Journal title :
Journal Européen des Systèmes Automatisés
Pages :
205-220
Publisher :
Lavoisier
Publication date :
2011
ISSN :
1269-6935
Keyword(s) :
diagnostiqueur.
système embarqué
diagnostic de défaillances
diagnostiqueur
système embarqué
diagnostic de défaillances
diagnostiqueur
HAL domain(s) :
Informatique [cs]/Automatique
French abstract :
Les systèmes embarqués sont de plus en plus utilisés dans la commande des systèmes critiques. Dans cet article, nous nous intéressons à la conception d'une carte électronique pour la commande du système de freinage d'un ...
Show more >Les systèmes embarqués sont de plus en plus utilisés dans la commande des systèmes critiques. Dans cet article, nous nous intéressons à la conception d'une carte électronique pour la commande du système de freinage d'un train. Dans ce contexte, on veut utiliser des COTS numériques tels que les microcontrôleurs ou les FPGA pour réaliser cette carte. A partir du moment où l'on surveille des systèmes critiques, et pour des raisons de sécurité, il est nécessaire de diagnostiquer les défaillances de la carte pour les traiter en ligne. Dans cet article, nous proposons d'utiliser les automates temporisés et la technique de diagnostiqueur pour surveiller de tels systèmes. Nous proposons une méthode et des modèles pour éviter l'explosion combinatoire et pouvoir mettre en œuvre plusieurs diagnostiqueurs travaillant en parallèle.Show less >
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Language :
Français
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Files
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