Using Current Surface Probe to Measure the ...

Type de document :
Article dans une revue scientifique
URL permanente :
http://hdl.handle.net/20.500.12210/31159
Titre :
Using Current Surface Probe to Measure the Current of the Fast Power Semiconductors
Auteur(s) :
Li, Ke [Auteur]
Videt, Arnaud [Auteur] refId
Laboratoire d'Électrotechnique et d'Électronique de Puissance (L2EP) - ULR 2697
Laboratoire d’Électrotechnique et d’Électronique de Puissance - ULR 2697 [L2EP]
Idir, Nadir [Auteur] refId
Laboratoire d'Électrotechnique et d'Électronique de Puissance (L2EP) - ULR 2697
Laboratoire d’Électrotechnique et d’Électronique de Puissance - ULR 2697 [L2EP]
Titre de la revue :
IEEE TRANSACTIONS ON POWER ELECTRONICS
Numéro :
30
Date de publication :
2015-06
Langue :
Anglais
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Collections :
Date de dépôt :
2020-09-11T14:27:35Z