Analysis of GaN Converter Circuit Stability ...

Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Link :
https://lilloa.univ-lille.fr/handle/20.500.12210/31722
Title :
Analysis of GaN Converter Circuit Stability Influenced by Current Collapse Effect
Author(s) :
Videt, Arnaud [Auteur] refId
Li, Ke [Auteur]
Idir, Nadir [Auteur] refId
Evans, Paul [Auteur]
Johnson, Mark [Auteur]
Journal title :
IEEE Applied Power Electronics Conference (APEC)
Publication date :
2020-03
Language :
Anglais
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Collections :
Submission date :
2020-09-14T08:17:17Z