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InAs/Al<sub>0.4</sub>Ga<sub>0.6</sub>Sb ...
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Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
DOI :
10.1109/ICIPRM.2016.7528571
Title :
InAs/Al<sub>0.4</sub>Ga<sub>0.6</sub>Sb side gated vertical TFET on GaAs substrate
Author(s) :
Chinni, Vinay [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Zaknoune, Mohammed [Auteur] refId
Advanced NanOmeter DEvices - IEMN [ANODE - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Wallart, Xavier [Auteur] refId
EPItaxie et PHYsique des hétérostructures - IEMN [EPIPHY - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Desplanque, Ludovic [Auteur] refId
EPItaxie et PHYsique des hétérostructures - IEMN [EPIPHY - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
28th International Conference on Indium Phosphide and Related Materials (IPRM) / 43rd International Symposium on Compound Semiconductors (ISCS)
City :
Toyama
Country :
Japon
Start date of the conference :
2016-06-26
Publisher :
IEEE
Publication date :
2016
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Collections :
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
Source :
Harvested from HAL
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