Charge Blinking Statistics of Semiconductor ...
Type de document :
Article dans une revue scientifique
Titre :
Charge Blinking Statistics of Semiconductor Nanocrystals Revealed by Carbon Nanotube Single Charge Sensors
Auteur(s) :
Zbydniewska, Ewa [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Duzynska, Anna [Auteur]
Popoff, Michka [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Hourlier, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lenfant, Stéphane [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Judek, Jaroslaw [Auteur]
Zdrojek, Mariusz [Auteur]
Melin, Thierry [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Duzynska, Anna [Auteur]
Popoff, Michka [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Hourlier, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lenfant, Stéphane [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Judek, Jaroslaw [Auteur]
Zdrojek, Mariusz [Auteur]
Melin, Thierry [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la revue :
Nano Letters
Pagination :
6349-6356
Éditeur :
American Chemical Society
Date de publication :
2015-09-02
ISSN :
1530-6984
Discipline(s) HAL :
Physique [physics]/Physique Quantique [quant-ph]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Micro et nanotechnologies/Microélectronique
Sciences de l'ingénieur [physics]/Micro et nanotechnologies/Microélectronique
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Internationale
Vulgarisation :
Non
Source :