Title :

A study of diffusive transport in 14nm FDSOI MOSFET: NEGF versus QDD

Author(s) :

Mugny, G. [Auteur]
STMicroelectronics [Crolles] [ST-CROLLES]
Pereira, G. [Auteur]
Archéologie des Amériques [ArchAm]
Rideau, D. [Auteur]
STMicroelectronics [Crolles] [ST-CROLLES]
Triozon, F. [Auteur]
Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information [CEA-LETI]
Niquet, Y.M. [Auteur]
Laboratory of Atomistic Simulation [LSIM ]
Pala, M. [Auteur]
Institut de Microélectronique, Electromagnétisme et Photonique - Laboratoire d'Hyperfréquences et Caractérisation [IMEP-LAHC ]
Garetto, D. [Auteur]
Synopsys Inc.
Delerue, C. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Conference title :

ESSDERC 2016 - 46th European Solid-State Device Research Conference

City :

Lausanne

Country :

France

Start date of the conference :

2016-09-12

Publisher :

IEEE

HAL domain(s) :

Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]/Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Internationale

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL

Submission date :

2021-07-27T10:55:15Z