Small- and large-signal measurements of ...

Document type :
Article dans une revue scientifique
DOI :
10.1002/(SICI)1098-2760(19960605)12:2<57::AID-MOP2>3.0.CO;2-M
Title :
Small- and large-signal measurements of low-temperature GaAs FETs
Author(s) :
Boudart, B. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Gaquière, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Trassaert, S. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Théron, Didier [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Splingart, B. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lipka, M. [Auteur]
Kohn, E. [Auteur]
Journal title :
MICROWAVE AND OPTICAL TECHNOLOGY LETTERS
Pages :
57 - 59
Publisher :
Wiley
Publication date :
1996-06-05
ISSN :
0895-2477
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Sciences de l'ingénieur [physics]/Electronique
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL
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