Influence of Neutron Irradiation on Electron ...

Document type :
Article dans une revue scientifique
DOI :
10.1109/TNS.2016.2566683
Title :
Influence of Neutron Irradiation on Electron Traps Existing in GaN-Based Transistors
Author(s) :
Berthet, Fanny [Auteur]
Laboratoire Universitaire des Sciences Appliquées de Cherbourg [LUSAC]
Petitdidier, Sébastien [Auteur]
Ecole des applications militaires de l'énergie atomique [EAMEA]
Laboratoire Universitaire des Sciences Appliquées de Cherbourg [LUSAC]
Guhel, Yannick [Auteur]
Laboratoire Universitaire des Sciences Appliquées de Cherbourg [LUSAC]
Trolet, Jean Lionel [Auteur]
Ecole des applications militaires de l'énergie atomique [EAMEA]
Mary, Patrick [Auteur]
Ecole des applications militaires de l'énergie atomique [EAMEA]
Gaquière, Christophe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Boudart, Bertrand [Auteur]
Laboratoire Universitaire des Sciences Appliquées de Cherbourg [LUSAC]
Journal title :
IEEE Transactions on Nuclear Science
Pages :
1918 - 1926
Publisher :
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Publication date :
2016-06
ISSN :
0018-9499
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL