Title :

High frequency and noise performance of GFETs

Author(s) :

Wei, W. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Fadil, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Pallecchi, Emiliano [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Circuits Systèmes Applications des Micro-ondes - IEMN [CSAM - IEMN]
Advanced NanOmeter DEvices - IEMN [ANODE - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Happy, Henri [Auteur]
Carbon - IEMN [CARBON - IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Deng, Marina [Auteur]
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
Fregonese, S. [Auteur]
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]
Zimmer, T. [Auteur]
Laboratoire de l'intégration, du matériau au système [IMS]

Conference title :

24th International Conference on Noise and Fluctuations, ICNF 2017

City :

Vilnius

Country :

Lituanie

Start date of the conference :

2017-07-20

Journal title :

Proceedings of 24th International Conference on Noise and Fluctuations, ICNF 2017

Publication date :

2017

HAL domain(s) :

Sciences de l'ingénieur [physics]/Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Internationale

Popular science :

Non

European Project :

Graphene Flagship Core Project 2

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL