Microscopie champ proche aux fréquences térahertz
Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
Microscopie champ proche aux fréquences térahertz
Author(s) :
Moreno, Gabriel [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
17èmes Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro-Nanoélectronique, JNRDM 2014
City :
Villeneuve d'Ascq
Country :
France
Start date of the conference :
2014
Book title :
Actes des 17èmes Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro-Nanoélectronique, JNRDM 2014
Publication date :
2014
French abstract :
Ce travail de thèse porte sur l'étude et sur l'adaptation de la microscopie champ proche (s-SNOM) dans les bandes de fréquences moyen-infrarouge (3-15 μm) et terahertz (100 μm - 1 mm). Nous présentons les principales ...
Show more >Ce travail de thèse porte sur l'étude et sur l'adaptation de la microscopie champ proche (s-SNOM) dans les bandes de fréquences moyen-infrarouge (3-15 μm) et terahertz (100 μm - 1 mm). Nous présentons les principales caractéristiques de cette technique de microscopie. Pour cela, une sonde AFM classique a été modélisée et étudiée par des calculs numériques autour de 30 THz (10 μm). Quelques relevés expérimentaux ainsi qu'un appareil de mesure sont également présentés.Show less >
Show more >Ce travail de thèse porte sur l'étude et sur l'adaptation de la microscopie champ proche (s-SNOM) dans les bandes de fréquences moyen-infrarouge (3-15 μm) et terahertz (100 μm - 1 mm). Nous présentons les principales caractéristiques de cette technique de microscopie. Pour cela, une sonde AFM classique a été modélisée et étudiée par des calculs numériques autour de 30 THz (10 μm). Quelques relevés expérimentaux ainsi qu'un appareil de mesure sont également présentés.Show less >
Language :
Français
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :