Title :

Band gap formation and elastic wave transmission in two-dimentional surface phononic crystal

Author(s) :

Yankin, Sergey [Auteur]
Saratov State Technical University
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Talbi, Abdelkrim [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Du, Yu [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Gerbedoen, Jean-Claude [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Preobrazhensky, Vladimir [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Pernod, Philippe [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bou Matar, Olivier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Conference title :

17èmes Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro-Nanoélectronique, JNRDM 2014

City :

Villeneuve d'Ascq

Country :

France

Start date of the conference :

2014

Book title :

Actes des 17èmes Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro-Nanoélectronique, JNRDM 2014

Publication date :

2014

English abstract : [en]

Using finite element method analysis of surface acoustic wave (SAW) propagation in the phononic crystal in a form of periodic lattice from nickel pillars, located on a piezoelectric substrate of Y+128°-cut LiNbO3, has been ...
Show more >Using finite element method analysis of surface acoustic wave (SAW) propagation in the phononic crystal in a form of periodic lattice from nickel pillars, located on a piezoelectric substrate of Y+128°-cut LiNbO3, has been conducted. Amplitude and phase characteristics of SAW propagation through said structure have been numerically studied and the change in the formed stopbands width and center frequency, related with geometric parameters of the phononic crystal changing, was analyzed. The numerical results were compared with the experimental measurements.Show less >

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL