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Blind digital modulation identification ...
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Document type :
Article dans une revue scientifique
DOI :
10.1109/LWC.2014.2318041
Title :
Blind digital modulation identification for time-selective MIMO channels
Author(s) :
Kharbech, Sofiane [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dayoub, Iyad [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Zwingelstein, Marie [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Simon, Eric [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Hassan, Kais [Auteur]
Laboratoire des sciences et techniques de l'information, de la communication et de la connaissance [Lab-STICC]
Journal title :
IEEE Wireless Communications Letters
Pages :
373-376
Publisher :
IEEE comsoc
Publication date :
2014
ISSN :
2162-2337
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
English abstract : [en]
This paper addresses the problem of blind digital modulation identification in time-selective Multiple-Input Multiple-Output channels. Our objective is to recognize modulation schemes in highly-mobile communication ...
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This paper addresses the problem of blind digital modulation identification in time-selective Multiple-Input Multiple-Output channels. Our objective is to recognize modulation schemes in highly-mobile communication environments, for military or high-speed railway applications, without signal knowledge or Channel State Information at the receiver. The proposed identification process is based on Blind Source Separation (BSS) and feature classification. We introduce a sliding window technique for the BSS of a faded-mixture to overcome the effect of the high mobility. Then, to improve the recognition of modulation schemes, we adopt a specific multi Artificial- Neural-Network (ANN) classifier, where each ANN is trained to be used within a particular Signal-to-Noise Ratio range. The proposed identifier has a good probability for achieving correct identifications under high velocity for typical carrier frequency and bandwidth.Show less >
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
Source :
Harvested from HAL
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