Scanning microwave near-field microscope ...

Document type :
Article dans une revue scientifique
DOI :
10.1109/TIM.2013.2270918
Title :
Scanning microwave near-field microscope based on the multiport technology
Author(s) :
Haddadi, Kamel [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lasri, T. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Journal title :
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
Pages :
3189-3193
Publisher :
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Publication date :
2013
ISSN :
0018-9456
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL