Titre :

Interferometric technique for scanning near-field microwave microscopy applications

Auteur(s) :

Bakli, H. [Auteur]
Haddadi, Kamel [Auteur]
Lasri, Tuami [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Titre de la manifestation scientifique :

IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference, I2MTC 2013

Ville :

Minneapolis, MN

Pays :

Etats-Unis d'Amérique

Date de début de la manifestation scientifique :

2013

Titre de l’ouvrage :

Proceedings of 2013 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference, I2MTC 2013

Date de publication :

2013

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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