Dielectric polarization 1/f noise : a ...
Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Title :
Dielectric polarization 1/f noise : a signature of defect-free oxides at nanotransistors interface
Author(s) :
Clement, N. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Nishiguchi, K. [Auteur]
Vuillaume, D. [Auteur]
Fujiwara, A. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Nishiguchi, K. [Auteur]
Vuillaume, D. [Auteur]
Fujiwara, A. [Auteur]
Conference title :
American Physical Society March Meeting, APS March Meeting 2013
City :
Baltimore, MD
Country :
Etats-Unis d'Amérique
Start date of the conference :
2013
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :