[Invited] On-wafer S-parameters and noise ...

Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Title :
[Invited] On-wafer S-parameters and noise measurements from D to J-band
Author(s) :
Waldhoff, N. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
European Microwave Week, EuMIC/EuMC, Workshop W10 - From de-embedding to waveform engineering
City :
Manchester
Country :
Royaume-Uni
Start date of the conference :
2011
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL