Interferometric technique for microwave ...

Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
DOI :
10.1109/MWSYM.2012.6259554
Titre :
Interferometric technique for microwave measurement of high impedances
Auteur(s) :
Haddadi, Kamel [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lasri, Tuami [Auteur] refId
Titre de la manifestation scientifique :
60th IEEE MTT-S International Microwave Symposium, IMS 2012
Ville :
Montréal
Pays :
Canada
Date de début de la manifestation scientifique :
2012
Titre de l’ouvrage :
Proceedings of 60th IEEE MTT-S International Microwave Symposium, IMS 2012
Date de publication :
2012
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL