Assessment of III-V MOSFET architectures ...

Document type :
Communication dans un congrès avec actes
DOI :
10.1109/SOI.2011.6081701
Title :
Assessment of III-V MOSFET architectures for low power applications using static and dynamic numerical simulation
Author(s) :
Shi, Minghua [Auteur]
Saint-Martin, J. [Auteur]
Bournel, A. [Auteur]
Querlioz, D. [Auteur]
Dollfus, P. [Auteur]
Mo, J.J. [Auteur]
Wichmann, Nicolas [Auteur] refId
Desplanque, L. [Auteur]
Wallart, X. [Auteur]
Danneville, Francois [Auteur]
Bollaert, S. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
37th IEEE International SOI Conference, SOI 2011
City :
Tempe, AZ
Country :
Etats-Unis d'Amérique
Start date of the conference :
2011
Book title :
Proceedings of 37th IEEE International SOI Conference, SOI 2011
Publication date :
2011
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL