ELABORATION DE GRAPHENE PAR EPITAXIE PAR ...
Document type :
Thèse
Title :
ELABORATION DE GRAPHENE PAR EPITAXIE PAR JETS MOLECULAIRES ET CARACTERISATION
English title :
GROWTH OF GRAPHENE BY MOLECULAR BEAM EPITAXY AND CHARACTERIZATION
Author(s) :
Moreau, Eléonore [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Thesis director(s) :
Dominique Vignaud(dominique.vignaud@univ-lille1.fr)
Defence date :
2011-12-09
Jury president :
Gilles Dambrine (Président du jury)
Laurence Magaud (Rapporteur)
M. Laurent Simon (Rapporteur)
Mme Maria-Carmen Asensio (Examinatrice)
M. Erik Dujardin (Examinateur)
M. Xavier Wallart (Examinateur)
Laurence Magaud (Rapporteur)
M. Laurent Simon (Rapporteur)
Mme Maria-Carmen Asensio (Examinatrice)
M. Erik Dujardin (Examinateur)
M. Xavier Wallart (Examinateur)
Jury member(s) :
Gilles Dambrine (Président du jury)
Laurence Magaud (Rapporteur)
M. Laurent Simon (Rapporteur)
Mme Maria-Carmen Asensio (Examinatrice)
M. Erik Dujardin (Examinateur)
M. Xavier Wallart (Examinateur)
Laurence Magaud (Rapporteur)
M. Laurent Simon (Rapporteur)
Mme Maria-Carmen Asensio (Examinatrice)
M. Erik Dujardin (Examinateur)
M. Xavier Wallart (Examinateur)
Accredited body :
Université des Sciences et Technologie de Lille - Lille I
Doctoral school :
Ecole Doctorale Sciences pour l'ingénieur
Keyword(s) :
graphène
SiC et semi-conducteurs à large bande interdite
épitaxie par faisceaux moléculaires
spectroscopie de photoélectrons
SiC et semi-conducteurs à large bande interdite
épitaxie par faisceaux moléculaires
spectroscopie de photoélectrons
English keyword(s) :
graphene: SiC
molecular beam epitaxy
photoelectron spectroscopy
molecular beam epitaxy
photoelectron spectroscopy
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]/Micro et nanotechnologies/Microélectronique
French abstract :
Depuis les premiers travaux publiés en 2004, le graphène est obtenu par trois principales techniques, l'exfoliation, le dépôt chimique en phase vapeur et la graphitisation du carbure de silicium. Seules les deux dernières ...
Show more >Depuis les premiers travaux publiés en 2004, le graphène est obtenu par trois principales techniques, l'exfoliation, le dépôt chimique en phase vapeur et la graphitisation du carbure de silicium. Seules les deux dernières sont adaptées aux technologies standards de la microélectronique. Une autre méthode est étudiée dans ce travail, consistant à faire croître le graphène par épitaxie par jets moléculaires. Le SiC a été utilisé comme substrat du fait du faible désaccord de maille avec le graphène et de sa compatibilité avec les processus technologiques. La croissance de graphène a été obtenue avec succès sur les deux faces du SiC, à partir d'une source de carbone solide. La gamme de température utilisable est restreinte du fait de l'amorphisation ou de la graphitisation. La structure du graphène dépend fortement de la face du SiC considérée, de façon analogue à ce qui est obtenu par graphitisation (plan d'interface riche en C et empilement graphite sur la face Si, absence de couche d'interface et plans tournés et découplés électroniquement sur la face C). Les bandes de valence ont été mesurées en spectroscopie de photoélectrons résolue angulairement, et présentent la dépendance linéaire caractéristique du graphène aux points de Dirac. Cependant, la présence de défauts dans le matériau induit une forte réduction de la mobilité électronique. Cette dernière a été améliorée en réalisant la croissance épitaxiale sous un flux de Si externe, à plus haute température.Show less >
Show more >Depuis les premiers travaux publiés en 2004, le graphène est obtenu par trois principales techniques, l'exfoliation, le dépôt chimique en phase vapeur et la graphitisation du carbure de silicium. Seules les deux dernières sont adaptées aux technologies standards de la microélectronique. Une autre méthode est étudiée dans ce travail, consistant à faire croître le graphène par épitaxie par jets moléculaires. Le SiC a été utilisé comme substrat du fait du faible désaccord de maille avec le graphène et de sa compatibilité avec les processus technologiques. La croissance de graphène a été obtenue avec succès sur les deux faces du SiC, à partir d'une source de carbone solide. La gamme de température utilisable est restreinte du fait de l'amorphisation ou de la graphitisation. La structure du graphène dépend fortement de la face du SiC considérée, de façon analogue à ce qui est obtenu par graphitisation (plan d'interface riche en C et empilement graphite sur la face Si, absence de couche d'interface et plans tournés et découplés électroniquement sur la face C). Les bandes de valence ont été mesurées en spectroscopie de photoélectrons résolue angulairement, et présentent la dépendance linéaire caractéristique du graphène aux points de Dirac. Cependant, la présence de défauts dans le matériau induit une forte réduction de la mobilité électronique. Cette dernière a été améliorée en réalisant la croissance épitaxiale sous un flux de Si externe, à plus haute température.Show less >
English abstract : [en]
Since the first publications in 2004, three techniques are mainly used to grow graphene, exfoliation, chemical vapor deposition and graphitization on silicon carbide. Only the two latter ones are suitable with microelectronics ...
Show more >Since the first publications in 2004, three techniques are mainly used to grow graphene, exfoliation, chemical vapor deposition and graphitization on silicon carbide. Only the two latter ones are suitable with microelectronics technological processes. In this thesis, another method of growth is studied, molecular beam epitaxy. SiC has been chosen as substrate, because of the low lattice mismatch with graphene and for technology compatibility. Thin films of graphene have been successfully grown from a solid carbon source on both faces of SiC. Amorphization and graphitization restrain the growth temperature range. The MBE graphene structure depends on the considered SiC face, as graphene grown by graphitization does (C-rich interface layer and graphite stacking on the Si face, rotated and electronically uncoupled graphene layers on the C face). The valence bands have been measured by angle resolved photoelectron spectroscopy and show the characteristic Dirac cone along the ΓК direction. However, defects are present in the MBE film, resulting in low electron mobility. This last point has been improved by growth under an external silicon flux, allowing higher temperature to be used.Show less >
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Language :
Français
Source :
Files
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