Structural analysis of site-controlled ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Title :
Structural analysis of site-controlled InAs/InP quantum dots
Author(s) :
Fain, B. [Auteur]
Elvira, D. [Auteur]
Le Gratiet, L. [Auteur]
Largeau, L. [Auteur]
Beaudoin, G. [Auteur]
Troadec, david [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Abram, I. [Auteur]
Beveratos, A. [Auteur]
Robert-Philip, I. [Auteur]
Patriarche, G. [Auteur]
Sagnes, I. [Auteur]
Elvira, D. [Auteur]
Le Gratiet, L. [Auteur]
Largeau, L. [Auteur]
Beaudoin, G. [Auteur]
Troadec, david [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Abram, I. [Auteur]
Beveratos, A. [Auteur]
Robert-Philip, I. [Auteur]
Patriarche, G. [Auteur]
Sagnes, I. [Auteur]
Journal title :
Journal of Crystal Growth
Pages :
37-39
Publisher :
Elsevier
Publication date :
2011
ISSN :
0022-0248
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :
Files
- fulltext.pdf
- Open access
- Access the document