Title :

Mesure du potentiel de surface d'un matériau

Author(s) :

Melin, Thierry [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Théron, Didier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Barbet, Sophie [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Deresmes, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Diesinger, Heinrich [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Country :

France

Publication date :

2011-08-19

Patent number :

FR2956484 (A1)

HAL domain(s) :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Language :

Français

Comment :

n° de priorité : FR20100000624 20100215 ; également publié en tant que : WO2011098720 (A1) 2011-08-18 ; FR2956484 (B1) 2012-04-20 ; US2012304342 (A1) 2012-11-29 ; EP2537037 (A1) 2012-12-26

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL