Title :

Deep structural analysis of novel BGaN material layers grown by MOVPE

Author(s) :

Gautier, S. [Auteur]
Patriarche, G. [Auteur]
Moudakir, T. [Auteur]
Abid, M. [Auteur]
Orsal, G. [Auteur]
Pantzas, K. [Auteur]
Troadec, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Soltani, A. [Auteur]
Largeau, L. [Auteur]
Mauguin, O. [Auteur]
Ougazzaden, A. [Auteur]

Publisher :

Elsevier

Publication date :

2011

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL

Submission date :

2021-07-27T17:10:41Z