Noise modeling and measurement techniques ...
Document type :
Partie d'ouvrage
Title :
Noise modeling and measurement techniques in deep submicron SOI devices
Author(s) :
Danneville, François [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dambrine, Gilles [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Dambrine, Gilles [Auteur]

Scientific editor(s) :
Balandin A.
Book title :
Noise and Fluctuations Control in Electronic Devices
Publisher :
American Scientific Publishers
Publication date :
2002
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Language :
Anglais
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Comment :
ISBN 978-1-5888-3005-0
Source :