Caractérisation des états d'interface par ...
Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Title :
Caractérisation des états d'interface par la méthode de conductance dans des capacités MIS au pentacène
Author(s) :
Petit, C. [Auteur]
Zander, D. [Auteur]
Lmimouni, Kamal [Auteur]
Ternisien, M. [Auteur]
Lenfant, Stephane [Auteur]
Vuillaume, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Zander, D. [Auteur]
Lmimouni, Kamal [Auteur]
Ternisien, M. [Auteur]
Lenfant, Stephane [Auteur]
Vuillaume, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
Colloque Matériaux et Nanostrutures Pi-conjugés, MNPC09
City :
Arcachon
Country :
France
Start date of the conference :
2009
Language :
Français
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :