Imaging electron transport by scanning ...
Type de document :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Imaging electron transport by scanning gate microscopy
Auteur(s) :
Liu, P. [Auteur]
Sellier, H. [Auteur]
Nano-Electronique Quantique et Spectroscopie [NEEL - QuNES]
Huant, S. [Auteur]
Nano-Optique et Forces [NEEL - NOF]
Wallart, Xavier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Desplanque, Ludovic [Auteur]
Hackens, B. [Auteur]
Martins, F. [Auteur]
Bayot, V. [Auteur]
Sellier, H. [Auteur]
Nano-Electronique Quantique et Spectroscopie [NEEL - QuNES]
Huant, S. [Auteur]
Nano-Optique et Forces [NEEL - NOF]
Wallart, Xavier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Desplanque, Ludovic [Auteur]
Hackens, B. [Auteur]
Martins, F. [Auteur]
Bayot, V. [Auteur]
Titre de la manifestation scientifique :
Forum des Microscopies à Sonde Locale
Ville :
Mittelwihr
Pays :
France
Date de début de la manifestation scientifique :
2010
Discipline(s) HAL :
Physique [physics]
Langue :
Anglais
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Source :