Croissance localisée, caractérisation ...

Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Title :
Croissance localisée, caractérisation structurale et électronique de nanofils silicium
Author(s) :
Xu, Tao [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Publication date :
2009
Language :
Français
Collections :
Source :
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