Trap characterization in AlGaN/GaN HEMT ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
Title :
Trap characterization in AlGaN/GaN HEMT by analyzing frequency dispersion in capacitance and conductance
Author(s) :
Semra, L. [Auteur]
Telia, A. [Auteur]
Soltani, Ali [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Telia, A. [Auteur]
Soltani, Ali [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Journal title :
Surface and Interface Analysis
Pages :
799-802
Publisher :
Wiley-Blackwell
Publication date :
2010
ISSN :
0142-2421
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :
Files
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