Title :

Trap characterization in AlGaN/GaN HEMT by analyzing frequency dispersion in capacitance and conductance

Author(s) :

Semra, L. [Auteur]
Telia, A. [Auteur]
Soltani, A. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Journal title :

Surface and Interface Analysis

Pages :

799-802

Publisher :

Wiley-Blackwell

Publication date :

2010

ISSN :

0142-2421

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

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