Transmission electron microscopy study of ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Titre :
Transmission electron microscopy study of erbium silicide formation from Ti/Er stack for Schottky contact applications
Auteur(s) :
Ratajczak, J. [Auteur]
Laszcz, A. [Auteur]
Czerwinski, A. [Auteur]
Katcki, J. [Auteur]
Phillipp, F. [Auteur]
van Aken, P.A. [Auteur]
Reckinger, N. [Auteur]
DUBOIS, Emmanuel [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Laszcz, A. [Auteur]
Czerwinski, A. [Auteur]
Katcki, J. [Auteur]
Phillipp, F. [Auteur]
van Aken, P.A. [Auteur]
Reckinger, N. [Auteur]
DUBOIS, Emmanuel [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la revue :
Journal of Microscopy
Pagination :
379-383
Éditeur :
Wiley
Date de publication :
2010
ISSN :
0022-2720
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :