Title :

Dispositif et procédé pour la caractérisation de composants électriques ou électroniques

Author(s) :

Bourgoin, J.P. [Auteur]
Derycke, Vincent [Auteur]
Nougaret, L. [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Happy, H. [Auteur]

Publication date :

2010-06-25

Patent number :

FR2940458 (A1)

Language :

Français

Comment :

n° de priorité : FR20080007450 20081224 ; également publié en tant que : WO2010072924 (A1) 2010-07-01 ; FR2940458 (B1) 2011-03-04 ; EP2382480 (A1) 2011-11-02 ; US2012092032 (A1) 2012-04-19

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL