Analysis of size effects in Pb(Zr0.54Ti0.46)O3 ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
Titre :
Analysis of size effects in Pb(Zr0.54Ti0.46)O3 thin film capacitors with platinum and LaNiO3 conducting oxide electrodes
Auteur(s) :
Bouregba, R. [Auteur]
Laboratoire de cristallographie et sciences des matériaux [CRISMAT]
Sama, N. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Soyer, Caroline [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Remiens, Denis [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Laboratoire de cristallographie et sciences des matériaux [CRISMAT]
Sama, N. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Soyer, Caroline [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Remiens, Denis [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Titre de la revue :
Journal of Applied Physics
Pagination :
044101
Éditeur :
American Institute of Physics
Date de publication :
2009
ISSN :
0021-8979
Discipline(s) HAL :
Physique [physics]/Matière Condensée [cond-mat]/Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :
Fichiers
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