Temperature measurement by microwave ...
Type de document :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
Titre :
Temperature measurement by microwave radiometry : application to microwave sintering
Auteur(s) :
Beaucamp-Ricard, C. [Auteur]
Dubois, Luc [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Vaucher, S. [Auteur]
Cresson, Pierre-Yves [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Microtechnology and Instrumentation for Thermal and Electromagnetic Characterization - IEMN [MITEC - IEMN]
Lasri, Tuami [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Microtechnology and Instrumentation for Thermal and Electromagnetic Characterization - IEMN [MITEC - IEMN]
Pribetich, J. [Auteur]
Dubois, Luc [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Vaucher, S. [Auteur]
Cresson, Pierre-Yves [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Microtechnology and Instrumentation for Thermal and Electromagnetic Characterization - IEMN [MITEC - IEMN]
Lasri, Tuami [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Microtechnology and Instrumentation for Thermal and Electromagnetic Characterization - IEMN [MITEC - IEMN]
Pribetich, J. [Auteur]
Titre de la revue :
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement
Pagination :
1712-1719
Éditeur :
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Date de publication :
2009
ISSN :
0018-9456
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Langue :
Anglais
Vulgarisation :
Non
Source :