Atom probe tomography of swift ion irradiated ...
Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...)
Permalink :
Title :
Atom probe tomography of swift ion irradiated multilayers
Author(s) :
Juraszek, J. [Auteur]
Grenier, A. [Auteur]
Teillet, J. [Auteur]
Cadel, E. [Auteur]
Tiercelin, N. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Monnet, I. [Auteur]
Toulemonde, M. [Auteur]
Grenier, A. [Auteur]
Teillet, J. [Auteur]
Cadel, E. [Auteur]
Tiercelin, N. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Monnet, I. [Auteur]
Toulemonde, M. [Auteur]
Publisher :
Elsevier
Publication date :
2009
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :
Submission date :
2021-07-27T19:06:02Z