Layered materiel characterization using ...
Document type :
Communication dans un congrès avec actes
Title :
Layered materiel characterization using V(z) inversion technique
Author(s) :
Xu, Wei Jiang [Auteur]
Ourak, Mohamed [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Vandevoorde, L. [Auteur]
Bourse, G. [Auteur]

Ourak, Mohamed [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Vandevoorde, L. [Auteur]
Bourse, G. [Auteur]
Conference title :
International Congress on Ultrasonics, ICU 2007
Country :
Autriche
Start date of the conference :
2007
Book title :
Proceedings of the 2007 International Congress on Ultrasonics, ICU 2007
Publisher :
Vienna University of Technology, Vienna, Austria
Publication date :
2007
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :