Titre :

Split ring resonator arrays : from microwave to optics

Auteur(s) :

Croënne, Charles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Carbonell, Jorge [Auteur]
Universitat Politècnica de València = Universitad Politecnica de Valencia = Polytechnic University of Valencia [UPV]
Gaillot, Davy [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lheurette, Eric [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Mélique, Xavier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lippens, Didier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Titre de la manifestation scientifique :

38th European Microwave Conference, EuMC 2008

Ville :

Amsterdam

Pays :

Pays-Bas

Date de début de la manifestation scientifique :

2008-10-27

Titre de l’ouvrage :

Proceedings of the 38th European Microwave Conference, EuMC 2008

Éditeur :

_

Date de publication :

2008

Mot(s)-clé(s) en anglais :

Optical ring resonators
Optical arrays
Microwave antenna arrays
Electromagnetic analysis
Infrared spectra
Metamaterials
Tellurium
Microwave measurements
Electromagnetic measurements
Fourier transforms

Discipline(s) HAL :

Sciences de l'ingénieur [physics]

Résumé en anglais : [en]

We numerically and experimentally investigated the electromagnetic properties of split ring resonator arrays excited under normal and oblique incidence angles and aimed at operating from the microwave to the infrared ...
Lire la suite >We numerically and experimentally investigated the electromagnetic properties of split ring resonator arrays excited under normal and oblique incidence angles and aimed at operating from the microwave to the infrared spectral region. Through fullwave EM analysis, the electromagnetic response is demonstrated in the metamaterial regime (inclusion rather than periodicity effect) responsible for high rejection in the TE and TM modes transmission spectra which are measured via Vectorial Network Analysis (VNA) at microwave and by Fourier transform spectroscopy (FTIR) in optics.Lire moins >

Langue :

Anglais

Comité de lecture :

Oui

Audience :

Internationale

Vulgarisation :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL