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Elaboration de nanofils de silicium sur ...
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Type de document :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...)
URL permanente :
http://hdl.handle.net/20.500.12210/50848
Titre :
Elaboration de nanofils de silicium sur pointes de tungstène pour caractérisation en sonde atomique et microscopie champ proche
Auteur(s) :
Xu, T. [Auteur]
Grandidier, B. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Nys, J.P. [Auteur]
Stiévenard, D. [Auteur]
Cadel, E. [Auteur]
Larde, R. [Auteur]
Pareige, P. [Auteur]
Titre de la manifestation scientifique :
1ères Journées Nanosciences Nord-Ouest, J2NO 2008
Ville :
Poitiers
Pays :
France
Date de début de la manifestation scientifique :
2008
Langue :
Français
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Collections :
  • Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520
Source :
Harvested from HAL
Date de dépôt :
2021-07-27T19:37:08Z
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