Complete characterization in thin film ...
Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Title :
Complete characterization in thin film using picosecond ultrasonics and nanostructured transducer
Author(s) :
Mante, P.A. [Auteur]
Robillard, Jean-François [Auteur]
Devos, Arnaud [Auteur]
Roch-Jeune, I. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Robillard, Jean-François [Auteur]

Devos, Arnaud [Auteur]

Roch-Jeune, I. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
Second ASA-EAA Joint Conference, ACOUSTICS'08
City :
Paris
Country :
France
Start date of the conference :
2008
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Source :