Surface potential of n- and p-type GaN ...

Document type :
Article dans une revue scientifique
DOI :
10.1063/1.3028639
Title :
Surface potential of n- and p-type GaN measured by Kelvin force microscopy
Author(s) :
Barbet, Sophie [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Aubry, Raphaël [Auteur]
Alcatel-Thalès III-V lab [III-V Lab]
Di Forte-Poisson, Marie-Antoinette [Auteur]
Alcatel-Thalès III-V lab [III-V Lab]
Jacquet, Jean-Claude [Auteur]
Alcatel-Thalès III-V lab [III-V Lab]
Deresmes, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Melin, Thierry [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Théron, Didier [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Journal title :
Applied Physics Letters
Pages :
212107-1-3
Publisher :
American Institute of Physics
Publication date :
2008
ISSN :
0003-6951
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL