Gate pulse electrical method to characterize ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
Title :
Gate pulse electrical method to characterize hysteresis phenomena in organic field effect transistor
Author(s) :
Petit, C. [Auteur]
Zander, D. [Auteur]
Lmimouni, Kamal [Auteur]
Ternisien, M. [Auteur]
Tondelier, D. [Auteur]
Lenfant, Stephane [Auteur]
Vuillaume, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Zander, D. [Auteur]
Lmimouni, Kamal [Auteur]
Ternisien, M. [Auteur]
Tondelier, D. [Auteur]
Lenfant, Stephane [Auteur]
Vuillaume, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Journal title :
Organic Electronics
Pages :
979-984
Publisher :
Elsevier
Publication date :
2008
ISSN :
1566-1199
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :
Files
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