High-frequency noise performance of 60-nm ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
Title :
High-frequency noise performance of 60-nm gate-length FinFETs
Author(s) :
Raskin, J.P. [Auteur]
Pailloncy, G. [Auteur]
Lederer, D. [Auteur]
Danneville, François [Auteur]
Dambrine, Gilles [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Decoutere, S. [Auteur]
Mercha, A. [Auteur]
Parvais, B. [Auteur]
Pailloncy, G. [Auteur]
Lederer, D. [Auteur]
Danneville, François [Auteur]

Dambrine, Gilles [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Decoutere, S. [Auteur]
Mercha, A. [Auteur]
Parvais, B. [Auteur]
Journal title :
IEEE Transactions on Electron Devices
Pages :
2718-2727
Publisher :
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Publication date :
2008
ISSN :
0018-9383
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :