Comparison between the noise performance ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
Title :
Comparison between the noise performance of double- and single-gate InP-based HEMTs
Author(s) :
Vasallo, B.G. [Auteur]
Wichmann, Nicolas [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bollaert, Sylvain [Auteur]
Roelens, Yannick [Auteur]
Cappy, Alain [Auteur]
Gonzalez, T. [Auteur]
Pardo, D. [Auteur]
Mateos, J. [Auteur]
Wichmann, Nicolas [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Bollaert, Sylvain [Auteur]

Roelens, Yannick [Auteur]

Cappy, Alain [Auteur]

Gonzalez, T. [Auteur]
Pardo, D. [Auteur]
Mateos, J. [Auteur]
Journal title :
IEEE Transactions on Electron Devices
Pages :
1535–1540
Publisher :
Institute of Electrical and Electronics Engineers
Publication date :
2008
ISSN :
0018-9383
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :