Caractérisation de composants et dispositifs ...
Document type :
Partie d'ouvrage
Title :
Caractérisation de composants et dispositifs actifs en basse température en bande Ka et Q : application à la filière métamorphique
Author(s) :
Delcourt, S. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Publication date :
2007
Language :
Français
Audience :
Non spécifiée
Source :