Characterization of ferroelectric films ...

Document type :
Article dans une revue scientifique
DOI :
10.1080/10584580701756284
Title :
Characterization of ferroelectric films up to 60 GHz : application to phase shifters
Author(s) :
Vélu, Gabriel [Auteur]
Laboratoire d'Etude des Matériaux et des Composants pour l'Electronique [LEMCEL]
Burgnies, Ludovic [Auteur]
Laboratoire d'Etude des Matériaux et des Composants pour l'Electronique [LEMCEL]
Houzet, Gregory [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Blary, Karine [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Lippens, Didier [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Carru, Jean-Claude [Auteur]
Laboratoire d'Etude des Matériaux et des Composants pour l'Electronique [LEMCEL]
Journal title :
Integrated Ferroelectrics
Pages :
110-118
Publisher :
Taylor & Francis
Publication date :
2007
ISSN :
1058-4587
English keyword(s) :
BaSrTiO3
paraelectric
microwave characterization
analog phase shifter
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
English abstract : [en]
Paraelectric Ba0.5Sr0.5TiO3 films 0.3 μm thick have been deposited by sol-gel on c-axis sapphire substrates. They have been investigated from 1 kHz to 60 GHz using coplanar waveguide transmission lines and interdigitated ...
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Language :
Anglais
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Internationale
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL