Analyse du potentiel de surface du GaN par ...

Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...): Communication dans un congrès avec actes
Title :
Analyse du potentiel de surface du GaN par microscopie à sonde de Kelvin (KFM)
Author(s) :
Barbet, Sophie [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Deresmes, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Melin, Thierry [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Théron, Didier [Auteur] refId
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Aubry, Raphaël [Auteur]
Thales Research and Technology [Palaiseau]
Di Forte-Poisson, Marie-Antoinette [Auteur]
Thales Research and Technology [Palaiseau]
Conference title :
10ème Forum des Microscopies à Sonde Locale
City :
Troyes
Country :
France
Start date of the conference :
2007-03-26
HAL domain(s) :
Sciences de l'ingénieur [physics]
Language :
Français
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL