Title :

Electronic transport through alkylthiol monolayers under mechanical stress measured by Conducting-AFM

Author(s) :

Lenfant, S. [Auteur]
Deresmes, D. [Auteur]
Vuillaume, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]

Conference title :

Matériaux et Nanostructures Pi-Conjugués, MNPC07

City :

Le Grau du Roi

Country :

France

Start date of the conference :

2007

Language :

Anglais

Peer reviewed article :

Oui

Audience :

Non spécifiée

Popular science :

Non

Collections :

• Institut d'Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie (IEMN) - UMR 8520

Source :

Harvested from HAL

Submission date :

2021-07-27T20:22:24Z