Reversible defect engineering of single-walled ...
Document type :
Compte-rendu et recension critique d'ouvrage
DOI :
Title :
Reversible defect engineering of single-walled carbon nanotubes using scanning tunneling microscopy
Author(s) :
Berthe, Maxime [Auteur]
Yoshida, S. [Auteur]
Ebine, Y. [Auteur]
Kanazawa, K. [Auteur]
Okada, A. [Auteur]
Taninaka, A. [Auteur]
Takeuchi, O. [Auteur]
Fukui, N. [Auteur]
Shinohara, H. [Auteur]
Suzuki, S. [Auteur]
Sumimoto, K. [Auteur]
Kobayashi, Y. [Auteur]
Grandidier, Bruno [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Stievenard, D. [Auteur]
Shigekawa, H. [Auteur]

Yoshida, S. [Auteur]
Ebine, Y. [Auteur]
Kanazawa, K. [Auteur]
Okada, A. [Auteur]
Taninaka, A. [Auteur]
Takeuchi, O. [Auteur]
Fukui, N. [Auteur]
Shinohara, H. [Auteur]
Suzuki, S. [Auteur]
Sumimoto, K. [Auteur]
Kobayashi, Y. [Auteur]
Grandidier, Bruno [Auteur]

Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Stievenard, D. [Auteur]
Shigekawa, H. [Auteur]
Journal title :
Nano Letters
Pages :
3623-3627
Publisher :
American Chemical Society
Publication date :
2007
ISSN :
1530-6984
Language :
Anglais
Popular science :
Non
Source :