Caractérisation electro-optique et ...
Type de document :
Communication dans un congrès avec actes
Titre :
Caractérisation electro-optique et piézoelectrique du PZT à l'aide d'un TFI
Auteur(s) :
Pannetier, B. [Auteur]
Laboratoire de Conception et d'Intégration des Systèmes [LCIS]
Lemaître-Auger, P. [Auteur]
Laboratoire de Conception et d'Intégration des Systèmes [LCIS]
Tedjini, S. [Auteur]
Laboratoire de Conception et d'Intégration des Systèmes [LCIS]
Dogheche, El Hadj [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Remiens, Denis [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Matériaux et Acoustiques pour MIcro et NAno systèmes intégrés - IEMN [MAMINA - IEMN]
Laboratoire de Conception et d'Intégration des Systèmes [LCIS]
Lemaître-Auger, P. [Auteur]
Laboratoire de Conception et d'Intégration des Systèmes [LCIS]
Tedjini, S. [Auteur]
Laboratoire de Conception et d'Intégration des Systèmes [LCIS]
Dogheche, El Hadj [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Remiens, Denis [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Matériaux et Acoustiques pour MIcro et NAno systèmes intégrés - IEMN [MAMINA - IEMN]
Titre de la manifestation scientifique :
22° Journées Nationales d'Optique Guidée
Ville :
Valence
Pays :
France
Date de début de la manifestation scientifique :
2003-11
Titre de l’ouvrage :
22° Journées Nationales d'Optique Guidée
Date de publication :
2003-11
Discipline(s) HAL :
Sciences de l'ingénieur [physics]/Electronique
Langue :
Français
Comité de lecture :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Vulgarisation :
Non
Source :