Nanofils de Si et sonde atomique tomographique

Document type :
Autre communication scientifique (congrès sans actes - poster - séminaire...)
Permalink :
http://hdl.handle.net/20.500.12210/51932
Title :
Nanofils de Si et sonde atomique tomographique
Author(s) :
Houard, J. [Auteur]
Lardé, R. [Auteur]
Cadel, E. [Auteur]
Pareige, P. [Auteur]
Hourlier, D. [Auteur]
Stiévenard, D. [Auteur]
Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 [IEMN]
Conference title :
Journées du GDR Nanofils Nanotubes Semiconducteurs
City :
Villeneuve d'Ascq
Country :
France
Start date of the conference :
2006
Language :
Français
Peer reviewed article :
Oui
Audience :
Non spécifiée
Popular science :
Non
Collections :
Source :
Harvested from HAL
Submission date :
2021-07-27T20:56:13Z